CISC Semiconductor基于最新RAIN RFID讀寫器性能測(cè)試流程的首款 CISC RFID Xplorer – Reader Tester 現(xiàn)已上市。

　　該工具用于測(cè)量RAIN RFID UHF 讀寫器，包含了讀卡器性能參數(shù)的測(cè)量，如接收靈敏度，和讀卡器一致性測(cè)試。其內(nèi)置監(jiān)聽功能為空氣界面提供全面的分析，以支持讀卡器應(yīng)用設(shè)置的優(yōu)化。該工具可分析RFID讀寫器和標(biāo)簽信號(hào)，實(shí)時(shí)完成讀寫器指令和標(biāo)簽響應(yīng)的探測(cè)及解碼。

　　CISC RFID Xplorer借助其仿真功能，模擬實(shí)際的RAIN RFID UHF 標(biāo)簽以用于分析、驗(yàn)證和優(yōu)化RFID系統(tǒng)安裝或單個(gè)RFID讀寫器。

　　標(biāo)簽仿真器克服了標(biāo)準(zhǔn)RFID標(biāo)簽的限制，可用于RFID應(yīng)用程序和RFID讀卡器的測(cè)試和研發(fā)支持。它可允許標(biāo)簽參數(shù)徹底變化并超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)RFID標(biāo)簽的有效容限。這結(jié)果可拓展超出標(biāo)準(zhǔn)極限的測(cè)試，也即由于參數(shù)修改的限制，以至于其不可在RFID標(biāo)簽的特性中設(shè)置。為了支持如RFID讀寫器研發(fā)和RFID系統(tǒng)評(píng)估等任務(wù)，它可提供可調(diào)的標(biāo)簽特性和拓展記錄的可能性。