在當前的RFID市場中, 選擇與RFID應用程序兼容的RAIN讀寫器通常是一個令人精疲力盡的 "反復試驗" 過程。花了幾天的時間來了解讀寫器的靈敏度, 并經(jīng)常用標簽來衡量。在大多數(shù)情況下, 唯一考慮的參數(shù)是讀取器的發(fā)射功率。此選擇過程非常耗時, 不可重復, 并且容易出錯，這些數(shù)據(jù)的準確性也可能有所不同。

　　CISC RFID Xplorer--我們的高精度RFID測試儀器 (用于測量RAIN標簽、讀取器和應用的性能和規(guī)范性) 最近在讀寫器測試方面推出了新功能。我們的系統(tǒng)配備了內置的標簽仿真器, 它可以準確地測量標簽的發(fā)射功率, 并記錄各種讀寫器設置, 并根據(jù)不同的影響因素 (如相移和反向鏈路) 確定讀寫器的靈敏度頻率 (BLF)。

　　另外這個RFID Xplorer可以:

　　· 用于測試RAIN讀寫器的性能及規(guī)范性

　　· 用于在研發(fā)階段驗證和開發(fā)讀寫器芯片

　　· 用于分析RAIN標簽和RAIN讀寫器之間的通信來調試應用設置

　　· 集成到生產(chǎn)線用于驗證生產(chǎn)過程中RAIN讀寫器的性能

　　Xplorer現(xiàn)在可以測試所有標簽響應事件的信號相位對RAIN讀寫器靈敏度的影響，Xplorer通過其相位掃描測量功能, 可以根據(jù)接收到的信號的相位清楚地評估讀取器靈敏度的變化。