CISC RAIN Xplorer Inline

CISC  RAIN  Inline  Xplorer ：生產(chǎn)線 RFID Inlay和標(biāo)簽的高速測試、編碼和加密設(shè)備。可集成到任何生產(chǎn)線。

1、主要優(yōu)點

1）在生產(chǎn)線對標(biāo)簽進行高速性能測試，提供 GPIO 用于外部觸發(fā)，API 用于完全自動化，壞標(biāo)弱標(biāo)標(biāo)記選項；

2）不降低或限制生產(chǎn)速度

3）支持多個測試點

4）支持多通道測試

2、主要特點

1）測試頻率從 800 MHz至1 GHz  

2）發(fā)射功率范圍從-10dBm到28dBm  

3）靈敏度-80dBm 

4）讀取EPC、TID和存儲器數(shù)據(jù)

5）寫入EPC和存儲區(qū)數(shù)據(jù)（編碼寫碼）  

6）測量標(biāo)簽在不同頻率下的靈敏度  

7）單次讀取EPC的測試時間起始為6毫秒

8）集成SAM（安全訪問模塊）

CISC NFC Xplorer Inline

NFC  Xplorer  Inline：生產(chǎn)線中 NFC Inlay 和標(biāo)簽的高速測試、編碼和加密設(shè)備。可集成到任何生產(chǎn)線。

主要優(yōu)點

1、在生產(chǎn)線對標(biāo)簽進行高速性能測試

2、不降低或限制生產(chǎn)速度

3、支持多個測試點

4、支持多通道測試

主要特點

1、可變 H 場強度

2、完全支持 1 到 6 類標(biāo)簽

3、支持讀寫模式，用于編碼和個性化

4、提供 GPIO 用于外部觸發(fā)，API 用于完全自動化，壞標(biāo)弱標(biāo)標(biāo)記選項；

5、支持 ISO/IEC 14443 A+B 和 15693 標(biāo)準(zhǔn)

6、測試速度可達每小時 10 萬件

CISC RAIN Xplorer

RAID Xplorer：用于測量RFID Inlay、標(biāo)簽、讀寫器的性能和一致性；RFID標(biāo)簽芯片規(guī)范性測試。嗅探功能可監(jiān)聽讀寫器和標(biāo)簽之間的通信

1、標(biāo)簽性能測試、規(guī)范性測試

  1）標(biāo)簽喚醒、反向功率及距離測試

  2）標(biāo)簽方向靈敏度測試

  3）標(biāo)簽反向曲線測試

  4）標(biāo)簽數(shù)據(jù)解碼、指令時序、功率及占空比測量

  5）ISO/IEC29167加密套件規(guī)范性等功能

  6）支持SINIAV、ARTESP及Brasil-ID協(xié)議

2、讀寫器性能測試、規(guī)范測試

  1）Tx VS Rx靈敏度、BLF VS Rx靈敏度測量。

  2）接收靈敏度穩(wěn)定性監(jiān)控

  3）相位及阻抗變化對接收靈敏度的影響測量

  4）真實反映讀寫器與標(biāo)簽之間的通信

  5）通過標(biāo)簽仿真模塊監(jiān)控場強

  6）讀寫器規(guī)范性測試

NFC  Xplorer

測量 NFC 標(biāo)簽的性能和一致性的 NFC 實驗室測試儀器，NFC讀寫器可通過嗅探器功能進行測試。

主要特點：

1、高精度 

2、快速且易于使用的圖形用戶界面 

3、支持多種協(xié)議 

4、標(biāo)準(zhǔn)和用戶自定義命令 

測試模式 ：

1、標(biāo)簽性能和一致性 

2、讀寫器--標(biāo)簽通信和射頻信號分析 

支持的標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議 

1、通信協(xié)議 

   ISO/IEC 14443 A 

   ISO/IEC 14443 B 

   ISO/IEC 15693, 

   ISO/IEC 18000-3M1 

   ISO 18092 NFC 

 2、測試標(biāo)準(zhǔn) 

   ISO/IEC 10373-6 

   ISO/IEC 10373-7