基準測試資訊-基準測試新聞

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最新RFID資訊

基準測試

AI芯片領(lǐng)域的角逐才剛剛開始

新型架構(gòu)能夠挖掘深度學習的巨大潛力。然而，到目前為止，只有一款A(yù)I芯片是完全符合描述和基準測試的，它就是谷歌的TPU。即便如此，這一領(lǐng)域仍然正在蓬勃發(fā)展，相關(guān)的技術(shù)也開始逐漸明朗。

04/24
香港科大霍英東研究院拓射頻及海洋動力研究

科大聯(lián)合內(nèi)地13家機構(gòu)成立了中國射頻識別基準測試聯(lián)盟，開創(chuàng)了內(nèi)地射頻識別基準測試技術(shù)研究的新局面。新成立的實驗室將擔負起吸收和轉(zhuǎn)化先進技術(shù)的任務(wù)，將聯(lián)盟各成員以及對射頻基準測試技術(shù)感興趣的其他研究機構(gòu)或企業(yè)聯(lián)系起來，共同推進這項技術(shù)的發(fā)展。

06/19
第二屆中國射頻識別基準測試發(fā)展論壇成功召開

2008年12月15日，第二屆中國射頻識別基準測試發(fā)展論壇暨中國射頻識別基準測試聯(lián)盟成立儀式在北京中國科學院自動化研究所學術(shù)報告廳成功舉辦。

12/18
中國射頻識別基準測試論壇即將舉行共享資源提升RFID應(yīng)用品質(zhì)

中國射頻識別基準測試論壇將于2008年12月15日在中國科學院自動化研究所自動化大廈學術(shù)報告廳舉行

12/09
倪明選博士談RFID基準測試的挑戰(zhàn)和機會

那么RFID基準測試現(xiàn)今面臨著那些挑戰(zhàn)呢？倪博士認為，五個挑戰(zhàn)是RFID基準測試需要面對的。

07/31
ODIN technologies公布抗金屬標簽的基準測試報告 RFID在金屬環(huán)境下可穩(wěn)定工作

ODIN technologies今天發(fā)表一份關(guān)于抗金屬標簽的基準測試報告。報告稱，測試結(jié)果表明金屬不再是阻礙 UHF RFID讀取的堅盾了。

07/10
第一屆中國無線射頻識別基準測試論壇在香港召開

2008年3月1日，第一屆中國無線射頻識別基準測試論壇暨備忘協(xié)議簽訂儀式在香港科技大學夏利萊博士及夫人演講廳召開。本次會議由香港科技大學主辦，以“中國無線射頻識別基準測試方法與標準的展望”為主題，邀請了來自內(nèi)地與香港地區(qū)重要的RFID測試機構(gòu)、行業(yè)組織和企業(yè)代表近百人參與討論和交流。

03/10
ODIN發(fā)布第一份歐洲RFID識讀器基準測試報告

RFID系統(tǒng)集成商ODIN科技發(fā)布了第一份歐洲RFID識讀器基準測試報告，以該公司對7個EPC Gen 2 UHF RFID應(yīng)答器的測試結(jié)果為基礎(chǔ)。這些應(yīng)答器（識讀器）已經(jīng)被歐洲電信標準化協(xié)會（ETSI）認證，符合歐盟當前RF規(guī)范。

07/04

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