基于 NI TestStand 管理軟件，設(shè)計(jì)了一套測試軟件，實(shí)現(xiàn)了對符合 ISO/IEC 18000-63 協(xié)議的芯片清點(diǎn)功能的測試。本測試軟件使用 NI RFID 測試儀，根據(jù)測試設(shè)計(jì)人員的需求開發(fā)出自動化測試序列，自動完成與被測芯片的通信交互，實(shí)現(xiàn)對響應(yīng)的判斷，并完成結(jié)果的保存。該軟件充分采用了 NI TestStand，相比之前測試清點(diǎn)功能的傳統(tǒng)的手動測試、半自動測試，測試時(shí)間分別縮短了 5/6、2/3。實(shí)踐證明，使用本測試軟件可以提高對超高頻電子標(biāo)簽開展功能測試的效率。
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